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推力試驗探針DMS-I20 本套探針分別符合GB2099.1-2008標(biāo)準(zhǔn)中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗保護(hù)門內(nèi)的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗保護(hù)門內(nèi)的帶電部件及有加強(qiáng)保護(hù)插座的帶電部件是否被觸及。

75mm試驗探棒技術(shù)參數(shù)：GB17988-2008第11.8條、GB4706.23 （IEC60335-2-30）第11.8條